• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
  • ورود / ثبت نام
تعداد ۱۸ پاسخ غیر تکراری از ۱۹ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۶۱ ثانیه یافت شد.

1.

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: جنکینز،رن ،- 1932

کتابخانه: کتابخانه ۱۳ آبان (کتابخانه های سازمان فرهنگی هنری شهرداری تهران) (تهران)

موضوع: ،اشعه ایکس - پراش سنج، ,،اشعه ایکس - پراش،

رده :
54
9/
1
ج
718

2. درآمدی بر بلورشناسی اشعه X و دستگاه XRD

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: /کامران احمدی، محمدحسن صرافی.,اح‍م‍دی‌ ج‍زی‌

کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)

موضوع: بلورشناسی با اشعه ایکس,اشعه ايكس , -- پراش سنج

رده :
‏‫‭
QD
۹۴۵ ‏‫‭
/
‮
الف
‬۳
د
۴ ۱۳۸۹

3. روشهای پیشرفته شناخت مواد

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,ص.عنوان به انگليسي: Advanced materials characterization,سجادی

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپ‌های الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲

4. روشهای پیشرفته شناخت مواد

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,سجادی

کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)

موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپ‌های الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی

رده :
‏‫‬‭
QD
۷۵
/
۲ ‫‬‭
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲

5. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه ای بر روش های میکروسکوپی. طیف سنجی و آنالیز حرارتی

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: گردآوری عبدالکریم سجادی? فرهاد صبا ,,سجادی? عبدالکریم. 1341 -

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد شهيد مطهری دانشگاه رازى (کرمانشاه)

موضوع: شیمی تجزیه تجزیه دستگاهی طیف سنجی اشعه ایکس -- پراش سنج اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی

رده :
QD
75/2
/
س
3
ر
9

6. روشها‌ی پیشرفته‌ شنا‌خت‌ مواد: : مقدمه‌ای بر روش‌ها‌ی میکروسکوپی‌، طیف‌سنجی‌ و آنا‌لیز حرارتی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: سجا‌دی، عبدالکریم‌ ۱۳۴۱ -

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)

موضوع: شیمی‌ تجزیه‌,تجزیه‌ دستگا‌هی‌,طیف‌سنجی‌,اشعه‌ ایکس‌ -- پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ -- کا‌ربردها‌ی صنعتی‌,میکروسکوپ‌ها‌ی الکترونی‌

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹

7. روشها‌ی پیشرفته‌ شنا‌خت‌ مواد: مقدمه‌ای بر روش‌ها‌ی میکروسکوپی‌، طیف‌سنجی‌ و آنا‌لیز حرارتی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: گردآوری عبدالکریم‌ سجا‌دی، فرها‌د صبا‌

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)

موضوع: شیمی‌ تجزیه‌,تجزیه‌ دستگا‌هی‌,طیف‌سنجی‌,اشعه‌ ایکس‌ -- پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ -- کا‌ربردها‌ی صنعتی‌,میکروسکوپ‌ها‌ی الکترونی‌

رده :
QD
،۷۵
/
۲،
/
س
۳
ر
۹،۱۳۹۲

8. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روش‌های میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / گردآوری عبدالکریم سجادی و فرهاد صبا

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه‌ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپ‌های الکترونی

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۱

9. روشها‌ی پیشرفته‌ شنا‌خت‌ مواد: مقدمه‌ای بر روش‌ها‌ی میکروسکوپی‌، طیف‌سنجی‌ و آنا‌لیز حرارتی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: سجا‌دی، عبدالکریم‌ ۱۳۴۱ -

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع: شیمی‌ تجزیه‌,تجزیه‌ دستگا‌هی‌,طیف‌سنجی‌,اشعه‌ ایکس‌ -- پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ -- کا‌ربردها‌ی صنعتی‌,میکروسکوپ‌ها‌ی الکترونی‌

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹

10. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روش‌های میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / گردآوری: عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپ‌های الکترونی

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳،
ر
۹

11. روشها‌ی پیشرفته‌ شنا‌خت‌ مواد : مقدمه‌ای بر روش‌ها‌ی میکروسکوپی‌، طیف‌سنجی‌ و آنا‌لیز حرارتی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: سجا‌دی، عبدالکریم‌ ۱۳۴۱ -

کتابخانه: کتابخانه مرکزي و مرکز اسناد دانشگاه سمنان (سمنان)

موضوع: شیمی‌ تجزیه‌,تجزیه‌ دستگا‌هی‌,طیف‌سنجی‌,اشعه‌ ایکس‌ -- پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ -- کا‌ربردها‌ی صنعتی‌,میکروسکوپ‌ها‌ی الکترونی‌

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲

12. روشها‌ی پیشرفته‌ شنا‌خت‌ مواد: مقدمه‌ای بر روش‌ها‌ی میکروسکوپی‌، طیف‌سنجی‌ و آنا‌لیز حرارتی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: سجا‌دی، عبدالکریم‌ ۱۳۴۱ -

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه زنجان (زنجان)

موضوع: شیمی‌ تجزیه‌,تجزیه‌ دستگا‌هی‌,طیف‌ سنجی‌,اشعه‌ ایکس‌ -- پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ -- کا‌ربردها‌ی صنعتی‌,میکروسکوپ‌ها‌ی الکترونی‌

رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹

13. مقدمه ای بر : شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس ) پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پ .در(

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Jenkins .R ,Vries de .L ,J؛ ترجمه احمد خاکزاد؛ جهندار رمضانی

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع: پراش سنج اشعه ایکس

رده :
QC
482
/
پ
4
ج
718
1368

14. #مقدمه ای بر: شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس : )پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پودر(

پدیدآورنده : #Jenkins, Ron

موضوع : اشعه ایکس - پراش سنج ،اشعه ایکس - پراش

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

15. مقدمه‌ ای بر:شنا‌خت‌ مواد به‌ کمک‌ دیفراکتومتری اشعه‌ ایکس‌:(پراش‌ سنجی‌ پرتوها‌ی ایکس‌-روش‌ پودر)

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: جنکینز،رن‌ Jenkins,Ron

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه زنجان (زنجان)

موضوع: اشعه‌ ایکس‌ - پراش‌ سنج‌,اشعه‌ ایکس‌ - پراش‌

رده :
QC
۴۸۲
/
پ
۴
ج
۹ ۱۳۶۹

16. مقدمه‌ای بر: شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس: (پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پودر)

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / [نوشته رن جنکینز، جی. ال. دی ورایز]

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- پراش

رده :
‭
QC
۴۸۲‬ ‭
/
پ
۴
ج
۹ ۱۳۶۹‬

17. مقدمه‌اي‌ بر: شناخت‌ مواد بکمک‌ ديفراکتومتري‌ اشعه‌ ايکس‌( :پراش‌ سنجي‌ پرتوهاي‌ ايکس‌ - روش‌ پودر)

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: نوشته‌ رن‌ جنکينز, جي‌ ال‌ دي‌ ورايز, ترجمه‌ احمد خاکزاد, جهاندار رمضاني‌,شناخت‌ مواد بکمک‌ ديفراکتومتري‌ اشعه‌ ايکس‌

کتابخانه: كتابخانه عمومی تربيت (آذربایجان شرقی)

موضوع: اشعه‌ ايکس‌ - پراش‌ سنج‌ اشعه‌ ايکس‌ - پراش‌

رده :
549
/1
ج
718
م

18. مقدمه‌اي برشناخت مواد بکمک ديفراکتومتري اشعه ايکس (پراش سنجي پرتوهاي ايکس - روش پودر)

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / J. L. de Vries, R. Jenkins

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)

موضوع: اشعه ايکس - پراش سنج,اشعه ايکس - پراش

رده :
۵۴۹
/
۱
ج
۷۱۸
م
۱۳۶۸‌
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال